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VCSEL(垂直腔面发射激光器)广泛应用于3D传感、消费电子、激光雷达与短距光互联等领域。从晶圆量产到封装体再到应用端,VCSEL的测试需求横跨三大场景:面向光通信的高频动态参数(带宽、眼图、RIN等)测试、CW/QCW驱动下的LIV与光学特性评估,以及面向激光雷达多结高功率VCSEL的窄脉冲量产测试。
量产台
VMP9000 - 窄脉冲晶圆量产测试系统
VMP9000系列VCSEL窄脉冲晶圆量产测试设备,是专为VCSEL激光雷达应用而设计的窄脉冲驱动的晶圆量产测试设备。该系列设备配置了自研驱动,可以在晶圆级提供小于100ns、大于35A的驱动,实现LIV、近场及远场测试能力。VMP9000-A可灵活集成全自动上下料,助力客户在量产中兼顾精度与效率。
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SPMT9000-半自动封装体测试系统
针对半自动VCSEL封装体窄脉冲性能测试的要求,柯泰自主研发了本测试系统。通过提供稳定可靠的自动运动平台,结合不同的物料形式以实现封装尺寸产品的测试,可适配各种光电检测组合的测试方案,包括:实现在窄脉冲驱动方式下的LIV测试(电流、电压、光功率时域波形测试),远场性能测试,并实现对产品内部齐纳二极管的电性能测试等功能。
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APS9000-VCSEL窄脉冲板级测试系统
APS9000是一款专门针对老化板在窄脉冲条件下进行全面性能检测的设备,该系统为半自动三站式测试系统。通过稳定可靠的自动运动平台,该测试系统可以在调校完成后,针对老化驱动板实现自动运行到指定测试位置,从而实现老化窄脉冲LIV测试及光谱测试、窄脉冲近场测试、窄脉冲远场测试。无论是光学性能,还是电学性能,该测试系统均能为您提供准确的性能评估,确保老化板在实际使用中的稳定性与可靠性,帮助您优化产品性能、提高生产效率。
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产品新闻
09-07
2026
产品推介 | VMP6000 IV/CV 测试系统,为PD晶圆量产守住电学关口
每一颗PD从晶圆走向光模块前,都必须闯过IV/CV电学测试这一关。面对高速PD日趋严苛的暗电流、结电容、击穿电压要求,传统测试方案在精度与效率上的短板被持续放大——测不准、测不快、测不全,已成为制约产线产能的重要因素。VMP6000 晶圆级半导体参数测试系统,正是面向PD的IV/CV电学测试而设计。该测试系统已实现标准化量产,在多家头部厂商已完成批量部署与验证,性能稳定,交付即用。
09-14
2026
柯泰光芯CIOE 2026圆满收官:以全场景测试方案回应AI算力时代
追光而至,聚力前行。9月11日,第27届中国国际光电博览会(CIOE 2026)在深圳国际会展中心圆满落下帷幕。
09-07
2026
重磅新品 | SMP7000正式登场:硅光与薄膜铌酸锂芯片耦合测试的国产新选择
柯泰光芯正式发布 SMP7000 SiPh/TFLN芯片耦合测试系统,为SiPh与TFLN芯片的耦合测试提供国产高端测试装备新选择。设备支持全链路光电协同测试,支持光-光、光-电、电-光多类型参数检测,涵盖DC/AC测试、FAU/Lens Fiber 端面或垂直耦合测试等核心项目,能精准测量耦合效率、波导损耗、调制器消光比以及PD响应度、暗电流等关键指标。
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